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ZEISS O-INSPECT 543

O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身,因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备,O-INSPECT一机即可胜任。

关键词:桥式三坐标 | 光学三坐标 | 3D扫描仪 | 生产三坐标

所属分类: ZEISS O-INSPECT 543

产品详细

配置
. Discovery远心变焦镜头
. 自适应照明系统
. VAST XXT扫描探头
. 测针架
. 标准球

选项
. 白光距离传感器

. 转台

. 含支架、玻璃托盘和网络托盘的上料系统

选项

CALYPSO

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